32.768 КГц прибор для измерения кристаллических колебаний пластыря

32.768 КГц прибор для измерения кристаллических колебаний пластыря

Описание продукции:

Для тестирования упаковки SMD (1610 / 2016 / 2012 / 3215 / 3225 и т.д.), основные частоты тестирования, циклы, PPM、 Разделение файлов с сигнализацией верхнего и нижнего пределов, время затвора необязательно, подходит для массового отбора и отбора материалов.

Основные тесты и адаптация

Частота и PPM: Определите, находится ли массовый скрининг в пределах допусков, таких как ±10 / 20 / 50ppm.

Пассивные кристаллические колебания: требуется регулируемая емкость нагрузки (6pF / 7pF / 9pF / 12.5pF и т. Д.) для моделирования фактической нагрузки схемы.

Зажим: универсальный с зондом / осколочным зажимом, микроупаковка рекомендуется выбрать бесконтактную индукционную рабочую упаковку, чтобы избежать повреждения штыря.

Основные технические показатели:
Диапазон частотных измерений: 0,1 Гц - 100 МГц
Чувствительность измерения частоты: 25 мВ
Измерения PPM: 10 Гц - 100 МГц
Точность измерения PPm: 1 ppm (1×10 - 6)
(Расширенный 0,1 ppm, 0,01 ppm)
Центральная частота: 0 Гц - 100 МГц Произвольная настройка
Диапазон настроек ошибок: ±1 - ±999 ppm установлен произвольно.
Настройка затвора: 4 передачи, 0.01s, 0.1s, 1s 3 передачи фиксированы,
Дверь 1 - й передачи 1ms - 10s может быть установлена,
Каждая ступенька на 1 мс устанавливается произвольно.
Периодический диапазон измерений: 100 мс - 10 с
Часовая частота: 10MC
Стабильность кристаллических колебаний: 5 × 10 - 7 / день

32.768 КГц прибор для измерения кристаллических колебаний пластыряФото: